Disciplina
Métodos Avançados de Caracterização de Materiais
Área
Área Científica de Química-Física, Materiais e Nanociências > Materiais e Nanociências
Activa nos planos curriculares
AdvaMTech2013 > AdvaMTech2013 > 3º Ciclo > Opcional > Métodos Avançados de Caracterização de Materiais
DEAEMat2006 > DEAEMat2006 > 3º Ciclo > Opções > Métodos Avançados de Caracterização de Materiais
Nível
Serão realizados 2 exames. A nota mínima para aprovação na prova escrita será de 9,5 valores. Serão admitidos a exame os alunos que tenham sido aprovados na componente laboratorial. Nas aulas de laboratório será desenvolvido trabalho experimental individual que será alvo de avaliação contínua.
Tipo
Não Estruturante
Regime
Semestral
Carga Horária
1º Semestre
2.0 h/semana
3.0 h/semana
2.0 h/semana
70.0 h/semestre
Objectivos
Aprofundamento de um conjunto de técnicas avançadas de caracterização de materiais e suas superfícies. Serão apresentados os princípios de funcionamento de cada uma das técnicas, sendo abordados casos de estudo no campo dos materiais poliméricos, biológicos, cerâmicos e metálicos. Pretende-se que os alunos tragam amostras do âmbito do seu próprio trabalho de investigação, que serão analisadas no decorrer das aulas práticas. Desta forma, a componente prática da disciplina, será útil na resolução de problemas concretos do seu plano doutoral.
Programa
1. Introdução 2. Microscopia óptica 3. Microscopia electrónica de varrimento 4. Microscopia electrónica de transmissão 5. Microscopias de sonda de varrimento (SPM/AFM) 6. Processamento e análise de imagem 7. Espectroscopia de Infra-Vermelho 8. Espectroscopia de Raman 9. Fotoluminescência 10. Absorção de Raios-X
Metodologia de avaliação
Serão realizados 2 exames. A nota mínima para aprovação na prova escrita será de 9,5 valores. Serão admitidos a exame os alunos que tenham sido aprovados na componente laboratorial. Nas aulas de laboratório será desenvolvido trabalho experimental individual que será alvo de avaliação contínua.
Pré-requisitos
Componente Laboratorial
Princípios Éticos
Componente de Programação e Computação
Componente de Competências Transversais
Bibliografia
Principal
Electron Microscopy and Analysis
P.J. Goodhew and F. J. Humphreys
The basics of crystallography and diffraction
Atomic Force Microscopy for Biologists
V J Morris, A R Kirby and A P Gunning
Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip
Ernst Meyer, Hans J. Hug and Roland Bennewitz
Infrared Spectral Interpretation ? A systematic approach
B. Stuart, B. George and P. McIntyre,
Infrared and Raman Spectroscopy of Biological Materials