Disciplina

Área

Área Científica de Química-Física, Materiais e Nanociências > Materiais e Nanociências

Activa nos planos curriculares

AdvaMTech2013 > AdvaMTech2013 > 3º Ciclo > Opcional > Métodos Avançados de Caracterização de Materiais

DEAEMat2006 > DEAEMat2006 > 3º Ciclo > Opções > Métodos Avançados de Caracterização de Materiais

Nível

Serão realizados 2 exames. A nota mínima para aprovação na prova escrita será de 9,5 valores. Serão admitidos a exame os alunos que tenham sido aprovados na componente laboratorial. Nas aulas de laboratório será desenvolvido trabalho experimental individual que será alvo de avaliação contínua.

Tipo

Não Estruturante

Regime

Semestral

Carga Horária

1º Semestre

2.0 h/semana

3.0 h/semana

2.0 h/semana

70.0 h/semestre

Objectivos

Aprofundamento de um conjunto de técnicas avançadas de caracterização de materiais e suas superfícies. Serão apresentados os princípios de funcionamento de cada uma das técnicas, sendo abordados casos de estudo no campo dos materiais poliméricos, biológicos, cerâmicos e metálicos. Pretende-se que os alunos tragam amostras do âmbito do seu próprio trabalho de investigação, que serão analisadas no decorrer das aulas práticas. Desta forma, a componente prática da disciplina, será útil na resolução de problemas concretos do seu plano doutoral.

Programa

1. Introdução 2. Microscopia óptica 3. Microscopia electrónica de varrimento 4. Microscopia electrónica de transmissão 5. Microscopias de sonda de varrimento (SPM/AFM) 6. Processamento e análise de imagem 7. Espectroscopia de Infra-Vermelho 8. Espectroscopia de Raman 9. Fotoluminescência 10. Absorção de Raios-X

Metodologia de avaliação

Serão realizados 2 exames. A nota mínima para aprovação na prova escrita será de 9,5 valores. Serão admitidos a exame os alunos que tenham sido aprovados na componente laboratorial. Nas aulas de laboratório será desenvolvido trabalho experimental individual que será alvo de avaliação contínua.

Pré-requisitos

Componente Laboratorial

Princípios Éticos

Componente de Programação e Computação

Componente de Competências Transversais

Bibliografia

Principal

Electron Microscopy and Analysis

P.J. Goodhew and F. J. Humphreys

1988

Taylor & Francis, London,


The basics of crystallography and diffraction

C. Hammond

2001

Oxford Science Publications


Atomic Force Microscopy for Biologists

V J Morris, A R Kirby and A P Gunning

1999

Imperial College Press


Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip

Ernst Meyer, Hans J. Hug and Roland Bennewitz

2003

Springer


Infrared Spectral Interpretation ? A systematic approach

Brian Smith

1999

CRC Press


Modern Infrared Spectroscopy

B. Stuart, B. George and P. McIntyre,

1996

John Wiley & Sons


Modern Raman Spectroscopy

Ewen Smith and Geoffrey Dent

2005

John Wiley & Sons


Infrared and Raman Spectroscopy of Biological Materials

H.U. Gremlich and B. Yan,

2001

Marcel Dekker, Inc