Disciplina
Técnicas Avançadas de Microscopia
Área
Área Científica de Projecto Mecânico e Materiais em Engenharia > Materiais Estruturais
Activa nos planos curriculares
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Mestrado em Tecnologias Biomédicas > Mestrado em Tecnologias Biomédicas > 2º Ciclo > Técnicas Avançadas de Microscopia
Nível
Primeira Frequência - 40% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 20% (de 15 em 15 dias) Segunda Frequência - 40% na aula (com consulta) Em alternativa ás frequências, há a possibilidade de fazer um exame final.
Tipo
Não Estruturante
Regime
Semestral
Carga Horária
1º Semestre
2.0 h/semana
1.5 h/semana
1.5 h/semana
98.0 h/semestre
Objectivos
Durante muitos anos, o Homem desenvolveu instrumentação capaz de ultrapassar a limitada resolução do olho humano, desde microscópios ópticos, microscópios electrónicos e de campo iónico. Actualmente, com o interesse em nanomateriais, os microscópios ópticos, electrónicos e iónicos avançados tornaram-se essenciais, devido à sua capacidade única de obter informação a nível da estrutura, composição e superfície. A ideia desta disciplina é estudar várias técnicas de caracterização de microscopia, as quais são essenciais para compreender a ciência dos materiais. A cadeiras vai focar-se em microscopias avançadas óticas, eletrónicas e iónicas, incluindo a microscopia ótica de campo próximo e confocal, a microscopia eletrónica de varrimento e transmissão, a microscopia de varrimento por sonda, e a microscopia de campo iónico. No fim do semestre, os alunos deverão ser capazes de avaliar como e quando usar estas técnicas para investigar as propriedades dos materiais. Objetivos de aprendizagem: Os objectivos são conhecimentos, aptidões e competências a desenvolver pelos estudantes, em particular a compreensão das bases científicas e tecnológicas dos nanomateriais, o domínio das suas técnicas de caracterização e a sua relação com as propriedades dos mesmos.
Programa
1. Revisão de Microscopia Ótica 2. Microscopia de Campo Próximo 3. Microscopia Confocal 4. Microscopia de Varrimento por Sonda 5. Microscopia de Campo Iónico 6. Microscopia Eletrónica de Varrimento 7. FIB 8. Revisão de Estrutura de Materiais 9. Teoria de Difração 10. Microscopia Eletrónica de Transmissão 11. EDS/Espectroscopia Auger/EELS
Metodologia de avaliação
Primeira Frequência - 40% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 20% (de 15 em 15 dias) Segunda Frequência - 40% na aula (com consulta) Em alternativa ás frequências, há a possibilidade de fazer um exame final.
Pré-requisitos
Componente Laboratorial
Princípios Éticos
Componente de Programação e Computação
Componente de Competências Transversais
Bibliografia
Principal
Nano-Optics and Near-Field Optical Microscopy
Anatoly Zayats, David Richards
Near Field Microscopy and Near Field Optics
Confocal Scanning Optical Microscopy and Related Imaging Systems
Gordon S. Kino and Timothy R. Corle
Noncontact Atomic Force Microscopy
S. Morita, R. Wiesendanger, and E. Meyer
Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip
Ernst Meyer, Hans J. Hug, and Roland Bennewitz
Atom Probe Field Ion Microscopy
M. K. Miller, A. Cerezo, the late M. G. Hetherington , G. D. W. Smith
Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set)
David B. Williams and C. Barry Carter
Practical Electron Microscopy in Materials Science
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy and Charles E. Lyman
Near Field Microscopy and Near Field Optics
Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications