Disciplina

Área

Área Científica de Projecto Mecânico e Materiais Estruturais > Materiais Estruturais

Activa nos planos curriculares

MEM 2017 > MEM 2017 > 2º Ciclo > Opções > Técnicas Avançadas de Microscopia

MEMat 2021 > MEMat 2021 > 2º Ciclo > Opções Livres > Técnicas Avançadas de Microscopia

Mestrado em Tecnologias Biomédicas > Mestrado em Tecnologias Biomédicas > 2º Ciclo > Técnicas Avançadas de Microscopia

Nível

Primeira Frequência - 40% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 20% (de 15 em 15 dias) Segunda Frequência - 40% na aula (com consulta) Em alternativa ás frequências, há a possibilidade de fazer um exame final.

Tipo

Não Estruturante

Regime

Semestral

Carga Horária

1º Semestre

2.0 h/semana

1.5 h/semana

1.5 h/semana

98.0 h/semestre

Objectivos

Durante muitos anos, o Homem desenvolveu instrumentação capaz de ultrapassar a limitada resolução do olho humano, desde microscópios ópticos, microscópios electrónicos e de campo iónico. Actualmente, com o interesse em nanomateriais, os microscópios ópticos, electrónicos e iónicos avançados tornaram-se essenciais, devido à sua capacidade única de obter informação a nível da estrutura, composição e superfície. A ideia desta disciplina é estudar várias técnicas de caracterização de microscopia, as quais são essenciais para compreender a ciência dos materiais. A cadeiras vai focar-se em microscopias avançadas óticas, eletrónicas e iónicas, incluindo a microscopia ótica de campo próximo e confocal, a microscopia eletrónica de varrimento e transmissão, a microscopia de varrimento por sonda, e a microscopia de campo iónico. No fim do semestre, os alunos deverão ser capazes de avaliar como e quando usar estas técnicas para investigar as propriedades dos materiais. Objetivos de aprendizagem: Os objectivos são conhecimentos, aptidões e competências a desenvolver pelos estudantes, em particular a compreensão das bases científicas e tecnológicas dos nanomateriais, o domínio das suas técnicas de caracterização e a sua relação com as propriedades dos mesmos.

Programa

1. Revisão de Microscopia Ótica 2. Microscopia de Campo Próximo 3. Microscopia Confocal 4. Microscopia de Varrimento por Sonda 5. Microscopia de Campo Iónico 6. Microscopia Eletrónica de Varrimento 7. FIB 8. Revisão de Estrutura de Materiais 9. Teoria de Difração 10. Microscopia Eletrónica de Transmissão 11. EDS/Espectroscopia Auger/EELS

Metodologia de avaliação

Primeira Frequência - 40% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 20% (de 15 em 15 dias) Segunda Frequência - 40% na aula (com consulta) Em alternativa ás frequências, há a possibilidade de fazer um exame final.

Pré-requisitos

Componente Laboratorial

Princípios Éticos

Componente de Programação e Computação

Componente de Competências Transversais

Bibliografia

Principal

Nano-Optics and Near-Field Optical Microscopy

Anatoly Zayats, David Richards

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Near Field Microscopy and Near Field Optics

Daniel Courjon

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Confocal Scanning Optical Microscopy and Related Imaging Systems

Gordon S. Kino and Timothy R. Corle

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Noncontact Atomic Force Microscopy

S. Morita, R. Wiesendanger, and E. Meyer

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Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip

Ernst Meyer, Hans J. Hug, and Roland Bennewitz

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Atom Probe Field Ion Microscopy

M. K. Miller, A. Cerezo, the late M. G. Hetherington , G. D. W. Smith

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Atom-Probe Field Ion Microscopy: Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution

Tien Tzou Tsong

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Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set)

David B. Williams and C. Barry Carter

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Practical Electron Microscopy in Materials Science

Jeffrey William Edington

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy and Charles E. Lyman

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Near Field Microscopy and Near Field Optics

Daniel Courjon

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Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy: Theory, Techniques, and Applications

Dawn Bonnel

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