Disciplina

Área

Área Científica de Projecto Mecânico e Materiais Estruturais > Materiais Estruturais

Activa nos planos curriculares

DEAEMat2006 > DEAEMat2006 > 3º Ciclo > Científicas > Opções > Microscopia Electrónica Experimental

Nível

Primeira Frequência - 25% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 25% (de 15 em 15 dias) Artigo de Revisão - 25% Segunda Frequência - 25% na aula (com consulta)

Tipo

Não Estruturante

Regime

Semestral

Carga Horária

1º Semestre

3.0 h/semana

1.5 h/semana

105.0 h/semestre

Objectivos

Durante muitos séculos, o Homem sempre usou instrumentos capazes de ultrapassar a resolução do olho humano, desde as pedras de leitura, telescópios, microscópios ópticos, e mais recentement microscópios electrónicos. Actualmente, com o interesse em nanomateriais, os microscópios ópticos e electrónicos sofisticados tornaram-se essenciais, devido à sua capacidade única de obter informação a nível da estrutura, composição e superfície. A ideia desta disciplina é combinar teoria com prática de forma a ensinar os alunos a adquirir imagens, difração e espetroscopia relevantes. A disciplina foca-se em transmitir aos alunos as ferramentas necessárias para desenvolverem técnicas sólidas de microscopia e formas de interpretação de dados. No fim do semestre, os alunos deverão ser capazes de avaliar criticamente resultados obtidos durante a investigação que se baseiam no uso das tecnologias acima mencionadas.

Programa

-Introdução -Tipos de Microscópios -Canhões de Eletrões, Lentes, Aberturas, Aberrações -Interações Amostra-Electrões -Design - MEV/MET -Detetores e Porta-Amostras -Preparação de Amostras -Difração em MET -Interpretação de Padrões de Difração -Modos de Imagem: Tipos de Contraste -Microscopia In Situ -Microscopia com Aberração Corrigida -EDS/ EELS

Metodologia de avaliação

Primeira Frequência - 25% na aula (com consulta) Trabalho de Casa - 25% (de 15 em 15 dias) Artigo de Revisão - 25% Segunda Frequência - 25% na aula (com consulta)

Pré-requisitos

Componente Laboratorial

Princípios Éticos

Componente de Programação e Computação

Componente de Competências Transversais

Bibliografia

Principal

Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science (4-Vol Set)

David B. Williams and C. Barry Carter

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Practical Electron Microscopy in Materials Science

Jeffrey William Edington

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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy and Charles E. Lyman

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