Disciplina Curricular
Microelectrónica Micro
Mestrado Integrado em Engenharia Aeroespacial - MEAer 2006
Contextos
Grupo: MEAer 2006 > 2º Ciclo > Tudelft - Ist/Utl > Ist - 9º Semestre
Período:
Grupo: MEAer 2006 > 2º Ciclo > Ist/Utl - Tudelft > Ist - 7º Semestre
Período:
Grupo: MEAer 2006 > 2º Ciclo > Áreas de Especialização > Aviónica > Opções de Aviónica > 9º Semestre de Aviónica
Período:
Peso
6.0 (para cálculo da média)
Objectivos
Fornecer aos alunos a competência para: 1) avaliar a dependência do comportamento de circuitos electrónicos com os parâmetros tecnológicos e eléctricos do processo de fabricação 2) avaliar a influência do rendimento de produção sobre a área do circuito integrado e sobre a viabilidade económica do projecto 3) projectar um circuito integrado de complexidade reduzida 4) definir as especificações de teste em circuitos integrados digitais, em particular, o padrão de teste, e a eventual reconfiguração do circuito de modo a que possa ser testado a custos economicamente viáveis.
Programa
1. Projecto Físico de Sistemas Integrados Monolíticos: Roteiro ITRS. Fluxo de Projecto. Tecnologias e processos de fabricação. Isolamento e Interligação de Componentes. Modelação e Simulação de Circuitos. Requisitos e Optimização de Projecto. 2. Projecto de Circuitos Integrados: (1) analógicos: amplificadores diferenciais; (2) digitais: portas lógicas, blocos funcionais. 3. Teste de Sistemas Digitais: Fases: Planeamento, Preparação e Aplicação. Objectivos e TRP (Test Resource Partitioning). Defeitos e Faltas. Modelação e Simulação de Faltas. Técnicas de Geração de Vectores: Algébricas e Algorítmicas. Técnicas de Detecção em Corrente e em Atraso. Projecto para Testabilidade: scan, boundary-scan, BIST. 4. Compromissos Técnico-Económicos: Qualidade: do Processo, do Teste e do Produto. Métricas de Qualidade. Rendimento de Produção. Teste ao Nível do Cristal e Teste Final. Custos de produção (fixos e variáveis). Encapsulamento. Estilos de Layout. Escolha de Tecnologia. 5. Temas Transversais: EMC (Compatibilidade Electromagnética) e Sistemas Integrados. Electrónica em Ambiente de Espaço. Radiação Perturbações ao Funcionamento (SEU) e Projecto Tolerante a Falhas.
Metodologia de avaliação
Avaliação contínua: 3 trabalhos de laboratório e um projecto de um circuito integrado (pouco complexo) Classificação: -3 Trabalhos, 30%, -Projecto, 20 % e -Exame escrito, 50 % (nota do exame maior ou igual a 8.0)