Dissertação

Reliability Evaluation of a 1.85mm Blind-Mated Coaxial Interconnects for mmWave ATE Applications EVALUATED

Nos últimos anos, a transmissão de grandes quantidades de dados usando Circuitos Integrados (CI) é um desafio das áreas de telecomunicação e redes. O surgimento da tecnologia 5G e dos dispositivos Wireless Gigabit (WiGig) requerem uma banda de frequência entre 24 e 70 GHz, com possíveis aumentos no futuro. O teste do CI é realizado por Equipmento de Teste Automático (ETA). A conexão num ETA, entre o Dispositivo Sobre Teste (DST) e a Placa de Circuito Impresso (PCI), é estabelecida por um conector coaxial de 1.85 mm. Consequentemente, este projeto concentra-se na fiabilidade desse conector. A avaliação de cada conector foi baseada em medidas elétricas, mecânicas e dimensionais ao longo de um teste cíclico (60,000 ciclos) realizado num sistema ETA. Para além disso, baseado numa Análise de Modo e Efeito de Falha (AMEF), técnicas como o Microscópio Eletrónico de Varrimento (MEV) e a Tomografia Computadorizada (TC) foram utilizadas. Uma simulação mecânica entre o contato do pin e do socket foi realizada segundo o Método dos Elementos Finitos (MEF). De um total de 14 conectores testados, 10 para medir os S-parameters, 2 para medir a resistência de contato e 2 para medir os S-parameters após um teste acelerado (ACT), 11 falharam. A falha ocorreu no conector fêmea, especificamente na reentrância (keyhole) do socket. A fadiga é o mecanismo de falha responsável pela fissuração. No geral, o conector apresentou elevada fiabilidade (cerca de 40,000 ciclos) em aplicações usando ETA.
5G, teste de CI, ETA, conector coaxial 1.85 mm, fiabilidade, MEF

Janeiro 30, 2020, 15:0

Publicação

Obra sujeita a Direitos de Autor

Orientação

ORIENTADOR

José Moreira

ORIENTADOR

Augusto Manuel Moura Moita de Deus

Departamento de Engenharia Mecânica (DEM)

Professor Auxiliar