Sumários

Caracterização morfológica de superfícies por AFM

31 maio 2024, 09:00 • Ana Maria de Matos Charas

Aula em laboratório de caracterização morfológica de duas amostras diferentes, peças em aço "CK45" (grupo 2) e liga Al-Si-Cu (grupo 3). Montagem de amostras e pontas. Explicação sobre características do microscópio (cont.) e aquisição de dados/imagens.

Caracterização morfológica de superfície por AFM

29 maio 2024, 14:30 • Ana Maria de Matos Charas

Aula em laboratório de caracterização morfológica da superfície de duas amostras diferentes, peças em aço "CK45" (grupo 2) e liga Al-Si-Cu (grupo 3), com um microscópio de força atómica. Exposição do microscópio e seus componentes, revisão do princípio de operação. Explicação sobre software e tratamento de imagens. Montagem de 1 amostra (grupo 2) e aquisição de dados/imagens.

Caracterização morfológica de superfícies por AFM

29 maio 2024, 08:00 • Ana Maria de Matos Charas

Aula em laboratório de caracterização morfológica de duas amostras diferentes, peças em aço "ST37" (grupo 1) e latão (grupo 4). Montagem de amostras e pontas. Explicação sobre características do microscópio (cont.) e aquisição de dados/imagens.

Caracterização morfológica de superfícies por AFM

27 maio 2024, 15:00 • Ana Maria de Matos Charas

Aula em laboratório de caracterização morfológica de duas amostras diferentes, peças em aço "ST37" (grupo 1) e latão (grupo 4), com um microscópio de força atómica. Exposição do microscópio e seus componentes, revisão do princípio de operação. Explicação sobre software e tratamento de imagens. Montagem de 1 amostra (grupo 1) e aquisição de dados/imagens.

Microscopias de sonda - Microscopia de Força Atómica

27 maio 2024, 10:30 • Ana Maria de Matos Charas

Introdução às microscopias de varrimento com sonda. Investigar à escala nanométrica: comparação entre escalas. Breve história sobre o desenvolvimento das microscopia de varrimento por efeito de túnel (STM) e de força atómica (AFM). Componentes essenciais e princípio de operação de um microscópio de força atómica. Forças de interação sonda-amostra. Modos de varrimento: Contacto, não contacto e Intermitente. Imagens de topografia e de fase. O componente piezo-eléctrico. Características e tipos de sondas/pontas. Artefactos nas imagens: como reconhecer e eliminar. Análise de imagens. Introdução a outras análises por AFM: AFM condutivo, nanomanipulação, nanolitografia, nanoidentação. Exemplos de aplicação de AFM na indústria (desenvolvimento de produtos) e em nanomedicina.