Programa

Projecto de Circuitos Integrados Testáveis

Diploma de Estudos Avançados em Engenharia Electrotécnica e de Computadores

Programa

1. Projecto e Teste de Systemas Electrónicos: verificação, teste, economia, preparação, aplicação. Fluxo de projecto e teste de ASICs e FPGAs. 2. Preparação do Teste: defeitos e modelos de faltas, simulação de faltas, geração automática de vectores de teste, métricas de testabilidade, teste por monitorização da corrente de alimentação e dos atrasos. 3. Metodologias e Ferramentas de Design for Testability (DfT): Scan, boundary-scan standards (IEEE 1149.X), auto-teste integrado (BIST), inserção de pontos de teste (TPI), teste de SoC (System on a Chip), norma IEEE 1500. Geração de vectores, simulação de faltas, interfaces. Em alternativa (cap. 4 ou 5): 4. Teste ao Nível de Placa: Boundary-scan IEEE 1149.1, teste de interligações, teste de circuitos mistos, IEEE 1149.4, configuração de dispositivos programáveis no sistema. 5. Requisitos de Projecto para Sistemas Digitais em Ambientes Hostis: Susceptibilidade a radiação. Fenómenos de acontecimentos transitórios singulares (SET/SEU). Compatibilidade electromagnética. Susceptibilidade e Linhas de Orientação no Projecto. Projecto para Fiabilidade.