Métodos de Avaliação

1. Componente Contínua - Laboratórios, classificação CL 4 trabalhos em grupo com relatórios obrigatórios. Nota individual, mínimo 10 valores. Peso na nota final 25 %. 2. Componente Discreta, sem exame final, classificação CT 3 testes escritos individuais sem consulta nas seguintes datas: - 1º teste, duração 2 horas, a 18 de Abril, matéria: semicondutores e díodo. Classificação C1, com peso p1. - 2º teste, duração 2 horas, a 12 de Maio, matéria: transístor bipolar e MOS. Classificação C2, com peso p2. - 3º teste, duração 2 horas, a 16 de Junho , toda a matéria. Classificação C3, com peso p3. O último teste é obrigatório. Alunos impedidos de o realizar por motivos de força maior deverão comprovar o impedimento. Ser-lhes-á marcada uma avaliação alternativa. A classificação CT é determinada através da relação: CT=p1xC1+p2xC2+p3xC3 A nota é obtida considerando a combinação mais favorável dos pesos, de entre as seguintes opções:. i) p1=0,3; p2=0,3; p3=0,4 ii) p1=0; p2=0,3; p3=0,7 iii) p1=0,3; p2=0; p3=0,7 A classificação mínima desta componente é de 10 valores. 3. Classificação Final CF=0,25xCL+0,75xCT