Disciplina Curricular
Circuitos Integrados Testáveis PCIT
Diploma de Estudos Avançados em Engenharia Electrotécnica e de Computadores - DEAEEC2006
Peso
6.0 (para cálculo da média)
Objectivos
Fornecer aos alunos a competência para: 1) Analisar as metodologias de projecto tendo em vista a testabilidade e a fiabilidade de sistemas electrónicos; 2) realizar módulos de Circuitos Integrados testáveis com técnicas de varrimento (scan) e de auto-teste integrado (BIST); 3) caracterizar requisitos de projecto de sistemas electrónicos a operar em ambientes hostis (radiação), ou sujeitos ao cumprimento de normas de compatibilidade electromagnética (EMC).
Programa
1. Projecto e Teste de Systemas Electrónicos: verificação, teste, economia, preparação, aplicação. Fluxo de projecto e teste de ASICs e FPGAs. 2. Preparação do Teste: defeitos e modelos de faltas, simulação de faltas, geração automática de vectores de teste, métricas de testabilidade, teste por monitorização da corrente de alimentação e dos atrasos. 3. Metodologias e Ferramentas de Design for Testability (DfT): Scan, boundary-scan standards (IEEE 1149.X), auto-teste integrado (BIST), inserção de pontos de teste (TPI), teste de SoC (System on a Chip), norma IEEE 1500. Geração de vectores, simulação de faltas, interfaces. Em alternativa (cap. 4 ou 5): 4. Teste ao Nível de Placa: Boundary-scan IEEE 1149.1, teste de interligações, teste de circuitos mistos, IEEE 1149.4, configuração de dispositivos programáveis no sistema. 5. Requisitos de Projecto para Sistemas Digitais em Ambientes Hostis: Susceptibilidade a radiação. Fenómenos de acontecimentos transitórios singulares (SET/SEU). Compatibilidade electromagnética. Susceptibilidade e Linhas de Orientação no Projecto. Projecto para Fiabilidade.
Metodologia de avaliação
Componente contínua: testes individuais (média: 50%). Componente integradora: trabalho final (natureza e tema dependentes do universo de formação avançada dos alunos) (50%).